6月10日下午，湖南大学张吉良教授受邀莅临我院作题为《高可靠双态模拟PUF芯片》的学术报告。报告会于逸夫楼201会议室举行，我院院长梁伟，副院长曹步清、张世文出席，部分教师、本科生到场聆听报告。报告会由张世文主持。

▲张吉良进行讲解

据张吉良介绍，我国目前在集成芯片的研究领域存在“卡脖子”现状，各类国产芯片在国内的市场占有率普遍偏低，双态模拟PUF芯片的研究将有效缓解这一现状。物理不可克隆功能（PUF）是一种硬件安全技术，它利用固有的设备变化来对给定的输入产生不可克隆的唯一设备响应。他指出，目前国内仍未有企业具备制造成熟PUF芯片及产品能力的企业，PUF芯片技术的发展也面临着安全性问题等诸多挑战，需要更多的高科技人才进行攻克。

▲报告会现场

张吉良向与会人员简要介绍了他所领导的团队目前研究的方向与成果，并热情解答现场师生提出的疑问，现场学术交流氛围浓厚。此外，他还鼓励我院学子在进行学术研究时，要善于发现常人未曾注意的问题，并进一步钻研，探究事实背后隐藏的真理。

▲提问环节

此次学术报告充分激发了我院学子在新兴技术领域的科研兴趣，对PUF芯片有了更深刻的了解，同时也为我院的科研工作带来了新的启发与思考。

文/陈国平 图/龙帅博